• <ruby id="mfik5"></ruby>
    <input id="mfik5"></input>
    <input id="mfik5"><source id="mfik5"></source></input>
  • <dl id="mfik5"><address id="mfik5"></address></dl>
  • <input id="mfik5"><noscript id="mfik5"></noscript></input>
    <dl id="mfik5"></dl><menuitem id="mfik5"></menuitem>
  • <input id="mfik5"><noscript id="mfik5"></noscript></input>
  • 當前位置:技術(shù)支持>儀器介紹 | LINSEIS導熱系列儀器介紹 技術(shù)文章

    儀器介紹 | LINSEIS導熱系列儀器介紹

    點(diǎn)擊次數:543  更新時(shí)間:2024-02-28


     01導熱系數概念 

    導熱系數是表征物質(zhì)熱傳導性質(zhì)的物理量,通常用k、λ或κ表示。是判斷導熱材料傳熱性能優(yōu)劣的重要依據。通常情況下,導熱系數越高,導熱性能越好。

     

     02 導熱測試方法

    01穩態(tài)法  

    穩態(tài)法就是當待測試樣上溫度分布達到穩定后,通過(guò)測量試樣內的溫度梯度和穿過(guò)試樣的熱流來(lái)測出導熱系數。

    穩態(tài)法具有原理清晰、模型簡(jiǎn)單、可準確直接地獲得熱導率絕對值等優(yōu)點(diǎn),常見(jiàn)方法有熱流計法、平板法、防護熱板法、軸線(xiàn)熱流法等。

    穩態(tài)法主要用于測量固體材料,特別是低導熱系數材料(如保溫材料)的導熱系數測試。
    02瞬態(tài)法   

    瞬態(tài)法是當被測試樣整體達到溫度均勻和恒定后,在試樣加載一個(gè)微小的溫度擾動(dòng),通過(guò)檢測此溫度擾動(dòng)波形,可以直接計算出被測試樣在此恒定溫度下的熱導率。

    瞬態(tài)法的特點(diǎn)是測量時(shí)間短,測量范圍寬,精確性高,對環(huán)境要求低,制樣簡(jiǎn)單。常見(jiàn)方法有激光閃射法、熱帶法、熱線(xiàn)法、平面熱源法、探針?lè )ǖ取?/span>

    瞬態(tài)法多用于研究高導熱材料,或在高溫條件下進(jìn)行測量。

     

    03 Linseis導熱系列設備

    01穩態(tài)法   

    HFM(熱流計)

    TIM-tester(材料熱阻導熱測試儀)
    02瞬態(tài)法  

    THB(瞬態(tài)熱橋法測試儀)

    LFA(激光導熱儀

    PLH(微米薄膜導熱儀)

    TFA(薄膜物性分析儀)

    TF-LFA(頻域、時(shí)域熱反射導熱儀)

    04導熱儀器簡(jiǎn)介

     

    HFM

    原理:將樣品放置在一個(gè)冷板和熱板之間,測量二者之間的熱流。

    可以快速、簡(jiǎn)單并且準確的測量低導熱系數保溫材料和其他材料的導熱性能。符合ASTM E1530標準。

     

    TIM-tester 

    能夠測試各種界面材料(如導熱膠、導熱膏、導熱墊)的熱阻、接觸熱阻和導熱系數。適用于電子行業(yè),如電池、電子封裝等。

    符合ASTM D5470-17標準。

     

    THB

    德國計量院與LINSEIS公司聯(lián)合研發(fā),能快速簡(jiǎn)便地測量樣品的熱導率、熱擴散率和比熱。

    符合ASTM D5334, ASTM D5930標準,有多種傳感器可供選擇,適用于固體、液體、氣體、粉末、糊狀物等的導熱系數測試。
     

    LFA

    原理:在一定溫度下,由激光源發(fā)射的激光均勻照射在樣品下表面,使樣品均勻加熱,通過(guò)紅外檢測器連續測量樣品背表面的溫升過(guò)程,得到溫度和時(shí)間的關(guān)系曲線(xiàn),從而計算樣品的熱擴散系數。

    符合ASTM E1461, ASTM E2585,ASTM C714等標準。

     

    PLH

    原理:采用調制激光照射樣品,使樣品表面獲得周期加熱源。熱量被樣品吸收后傳遞到樣品背面,紅外檢測器采集樣品背表面溫度變化反饋到信號放大器,通過(guò)連續調整激光頻率,檢測溫度的相位和幅值變化,從而分析計算相位和幅值變化關(guān)系來(lái)確定樣品熱擴散系數。

    適用10-500μm厚度樣品測試,解決薄膜樣品測試難點(diǎn)。

     

       

    TFA

    將薄膜樣品沉積到預制芯片上,可以同時(shí)測量nm-um薄膜樣品面內方向的導熱系數、電導率、賽貝克系數、霍爾系數等參數。


     

     TF-LFA

    分析模型:TDTR(時(shí)域熱反射)技術(shù)通常建立雙溫度模型,從實(shí)驗測量的反射率中提取出溫度變化量,從而計算得到樣品的熱導率。FDTR(頻域熱反射)通過(guò)調制加熱材料的泵浦光頻率、分析反射探測光的熱信號,可以實(shí)現微納尺度下材料的快速、非接觸、無(wú)損測量。

    TF-LFA主要測量nm-um薄膜材料的面間(厚度方向)導熱系數。

     

     

     

     

    一区二区三区四少妇|亚洲国产一区二区试看|婷婷五月激情国产在线|亚洲色无码一级毛片一区二区每天将|久久激情五月丁香无码伊人|91久久夜色精品国产网站|久久99蜜桃精品久久久久
  • <ruby id="mfik5"></ruby>
    <input id="mfik5"></input>
    <input id="mfik5"><source id="mfik5"></source></input>
  • <dl id="mfik5"><address id="mfik5"></address></dl>
  • <input id="mfik5"><noscript id="mfik5"></noscript></input>
    <dl id="mfik5"></dl><menuitem id="mfik5"></menuitem>
  • <input id="mfik5"><noscript id="mfik5"></noscript></input>